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(96下)電子顯微鏡學(6404)

報名期間：從即日起到無限期
上課期間：從即日起到無限期
學分數：3

 1 Introduction to electron beam instruments
 2 Electron-specimen interactions
 3 Layout and operational modes of electron beam instruments
 4 Interpretation of diffraction information
5 Analysis of micrographs in TEM and SEM
6 Interpretation of analytical data

通過條件

成　　績：60 分

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授課老師

陳文照

陳文照

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